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  • 光譜隨偏儀

    光譜橢偏儀是一種用于探測薄膜厚度、光學常數以及材料微結構的光學測量設備。由于與樣品非接觸,對樣品沒有破壞且不需要真空,使得橢偏儀成為一種吸引力的測量設備。

    更新時間:2025-07-17

    廠商性質:生產廠家

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